基本信息
| 标准名称： | 半导体器件 集成电路 第4部分：接口集成电路 第一篇：线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范 |
| 英文名称： | Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 4:Interface integrated circuits--Section 1:Bland detail specification for linear digital-to-analogue converters (DAC) |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 半导体集成电路 |
| ICS分类： | 电子学 >> 集成电路、微电子学 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
| 发布日期： | 2001-01-01 |
| 实施日期： | 2002-06-01 |
| 首发日期： | 2001-11-05 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 归口单位： | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 信息产业部电子工业标准化研究所 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2004-04-17 |
| 页数： | 平装16开， 页数：18， 字数：33千字 |
| 书号： | 155066.1-18293 |
适用范围
IEC电子器件质量评定体系遵循IEC的章程并在IEC授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子器件无需进一步试验而为其所有参加国同样接受。本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并且与下列IEC标准一起使用。IEC 747-10/QC 700000 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范IEC 748-11/QC 790100 半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路（不包括混合电路）分规范
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 微电路 半导体集成电路 电子学 集成电路 微电子学